PID絕緣測試儀（TOS7210S）是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID(Potential Induced Degradation)現象進行評估，以絕緣電阻測試儀（TOS7200）為基礎設計而成的測試儀。 
附有極性切換功能，輸出電壓可達2000V,同時裝載了nA分辨率的電流表，因此不僅可以進行PID評估，還可以用于要求進行高敏感度測試的絕緣體評估測試。標準安裝了可從外部調用的面板存儲器及RS232C接口，因此也可以靈活對應自動化系統(tǒng)。

什么是PID現象？
PID現象是指太陽能電池與邊框長期被施以高電壓，電池發(fā)電量顯著降低的現象。目前認為所施加的電壓越高，越是在高溫、高濕的環(huán)境下劣化現象越嚴重。如晶體硅太陽能電池模塊的輸出電壓即使只有數十V，一旦直接連接的片數增加，串內的電位差將變得非常高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作為交流電源與系統(tǒng)相連,使接地形態(tài)發(fā)生變化。輸入端采用浮接（一側電極不能接地線）的無變壓器方式近年有所增加。這種情況下電池和地線間將發(fā)生高電位差。現在可明確的是，晶體硅太陽能電池模塊中，相對于邊框（接地線）負極電位高的電池容易發(fā)生PID現象。（請參照圖1）目前，日本國內以zui大600V、歐洲以zui大1000V的系統(tǒng)電壓運行太陽能電池模塊，但是目前出現了提高zui大系統(tǒng)電壓以削減企業(yè)用大規(guī)模太陽能發(fā)電系統(tǒng)的串數、PCS總數，提高發(fā)電效率的趨勢。 

圖2模擬了晶體硅太陽能電池模塊的處于高電位差的狀況。邊框為正極電位、模塊電路處于負*電位的狀況。目前認為是由于超白鋼化玻璃內的鈉離子向電池側遷移而引起劣化。（薄膜太陽能電池模塊也被確認出現PID現象，但是發(fā)生劣化的機制與晶體硅太陽能電池模塊不同。）現在，各種研究機構正在通過研究、試驗查找PID現象的原因。

 特長

• 可任意設定輸出電壓
  可將對被檢品施加的測試電壓設定在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）范圍內。假設太陽能發(fā)電系統(tǒng)的電壓在1000V以上，可對其進行評估。此外，在電氣/電子部件、電氣/電子設備的絕緣電阻測試中，也可對應JIS C 1302: 1994所規(guī)定的電壓范圍以外的測試。在50V-1000V范圍內，輸出特性以JIS C 1302: 1994為基準。 
• 極性切換功能
  可通過主機面板的開關輕松切換輸出極性。PID現象是一種可逆現象，施加負偏壓電壓可能會恢復。極性切換是一項不需要對被檢品實施配線變更的便利功能。此外，通過RS232C接口可實施由外部控制的切換。 
• 建立輸出端的浮地
  輸出端子與接地電位間為浮地狀態(tài)(*1)。此外，使用屏蔽電纜作為輸出電纜 (TL51-TOS)。這樣就不會測量被檢品與大地間的電流，只測量測試點間的電流，可確保評估測試的高敏感度和性。
  *1：設定為正極的端子的對地電壓（±1000Vdc）設定為負極的端子的對地電壓（+1000Vdc及-3000Vdc） 
• 模擬輸出端子
  在電阻顯示模式中，基于對數壓縮將對應電阻測量值的電壓輸出限制在0V-4V之間。在電流顯示模式中，對應電流測量值及測量量程（4個量程）按線性標度輸出。使用數據記錄器等外部記錄設備可對被檢品的變化、劣化狀況進行解析。